ORTEC*初成立于1960由一組來自橡樹嶺國家實(shí)驗(yàn)室的科學(xué)家們提供研究硅面壘帶電粒子探測(cè)器的商業(yè)來源。高純已經(jīng)在核測(cè)量幾乎所有領(lǐng)域提供先進(jìn)的解決方案。ORTEC作為一個(gè)**性的制造商，ORTEC品牌產(chǎn)品被用于從研究到應(yīng)用系統(tǒng)包括國土**應(yīng)用核測(cè)量品種繁多。 ORTEC**和交鑰匙光譜系統(tǒng)的設(shè)計(jì)制作。

輻射探測(cè)器

高純型系列P型高純鍺(鍺)檢測(cè)器匹配的晶體尺寸為*佳的計(jì)算幾何，結(jié)果你的應(yīng)用。

簡介寶石系列探測(cè)器的特點(diǎn)：

· 穩(wěn)定的，薄的正面接觸。

· 標(biāo)準(zhǔn)的碳纖維，或可選的鈹窗

· 效率150*，更高的要求。

· 優(yōu)異的能量分辨率和峰的對(duì)稱性。

· 在指定的晶體尺寸分布模型。

· 智能偏置選項(xiàng)。

· 惡劣的環(huán)境選項(xiàng)。

· 背景低碳纖維帽的選擇。

· 加上前置放大器的選擇超高速應(yīng)用。

· 廣泛的配置靈活性、易拉罐、流線和機(jī)械冷卻選項(xiàng)。

協(xié)助的*準(zhǔn)模型的配置規(guī)格，配置指南可。